苏州东伟元电子有限公司

咨询电话:

13913158248

当前位置:

首页  >  技术文章  >  简述LCR测试仪的测试原理

简述LCR测试仪的测试原理

更新时间:2013-06-25        阅读量:3217
  LCR测试仪能准确并稳定地测定各种各样的元件参数,主要是用来测试电感、电容、电阻的测试仪。它具有功能直接、操作简便等特点,能以较低的预算来满足生产线质量保证、进货检验、电子维修业对器件的测试要求。
  LCR测试仪-测试原理
  Vx与Vr均是矢量电压表,Rr是理想电阻。自平衡电桥的意思是:当DUT(DeviceUnderTest)接入电路时,放大器的负反馈配置自动使得OP输入端虚地。Vx准确测定DUT两端电压(DUT的Low电位是0),Vr与Rr测得DUT电流Ix,由此可计算Zx。
  HP4275的测试端Hp,Hc,Lp,Lc(下标c代表current,下标p代表Potential),Guard(接地)的配置可导致测试的误差的差异。
  提高精度的方法是:1,Hp,Lp,Hc,Lc尽量接近DUT;2,减小测试电流Ix的回路面积&磁通量(关键是分析Ix,要配合使用Guard与Cablezui小化回路面积);3,使用Gurard与Cable构建地平面中断信号线间的电场连接,虽然会增加信号线的对地电容(对地电容不影响测试结果),但是会减少信号线的互容。
  Guard与Cable的对地寄生阻抗(Zhg,Zlg)不影响测试结果,电桥平衡时Zlg的两端电压是0,流向Rr的电流不会被Zlg分流,Zhg的分流作用不影响Hp的电压测量。

版权所有©2024 苏州东伟元电子有限公司  备案号:苏ICP备13024284号-1

技术支持:化工仪器网  管理登陆  sitemap.xml

Baidu
map